Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomi
  • Svenska
  • English
  • Kirjaudu
Hakuohjeet
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Näytä viite 
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Lapin ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Lapin ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite

FE-SEM- ja EDS-laitteiden käyttöönotto

Kauppi, Jaana (2011)

 
Avaa tiedosto
Kauppi_Jaana.pdf (2.877Mt)
Lataukset: 


Kauppi, Jaana
Kemi-Tornion ammattikorkeakoulu Lapin ammattikorkeakoulu
2011
All rights reserved
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201105117419
Tiivistelmä
Työn tavoitteena oli ottaa käyttöön testauslaboratoriossa FE-SEM-(kenttäemissio-pyyhkäisyelektronimikroskooppi) ja EDS(röntgenanalysaattori) -laitteistot. Ennen vaativien laitteiden asennusta suoritettiin olosuhdemittaukset, joiden perusteella valittiin asennuspaikka. Laboratorion lämpötila, kosteus, magneettikentät, tärinä, akustinen värähtely ja ilmavirta mitattiin ja tulokset dokumentoitiin.

Hyväksyttyyn asennuspaikkaan tehtiin tarvittavat muutokset ja liitännät. Laitteeseen tarvittiin vaatimusten mukaiset liitännät: sähkö, paineilma, typpikaasu ja internet. Lisäksi laitteen sähkökatkosten varalta asennettiin hälytysjärjestelmä.

Laitteen asennus, käyttöönotto ja koulutus saatiin suoritettua aikataulun mukaisesti. Työn tuotoksena saatiin FEI Quanta FEG450 -elektronimikroskoopin suomenkielinen käyttöohje, jonka avulla voi aloittaa kuvaukset.

Työssä käsitellään elektronimikroskoopin ja röntgenanalysaattorin teoriaa yleisesti ja laitteen näkökulmasta. Tätä dokumenttia voidaan käyttää myös opetusmateriaalina aiheeseen perehdyttäessä.

Elektronimikroskopia on erityinen tutkimusmenetelmä, josta ei suomenkielistä materiaalia ole paljon saatavissa. Työ sisältää käytännönläheisen tietopaketin FE-SEM:n ja EDS:n käytöstä.


Asiasanat: elektronimikroskopia, käyttöönotto, testaus, kuvantaminen.
 
Kokoelmat
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatKoulutusalatAsiasanatUusimmatKokoelmat

Henkilökunnalle

Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste