Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomi
  • Svenska
  • English
  • Kirjaudu
Hakuohjeet
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Näytä viite 
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Metropolia Ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt
  • Näytä viite
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Metropolia Ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt
  • Näytä viite

Puolijohdereleiden testilaitteiston toteutus LabVIEW-ohjelmointiympäristössä

Uggeldahl, Janne (2009)

 
Avaa tiedosto
uggeldahl_janne.pdf (895.9Kt)
Lataukset: 


Uggeldahl, Janne
Metropolia Ammattikorkeakoulu
2009
All rights reserved
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-200912178192
Tiivistelmä
Insinöörityön tehtävänä oli suunnitella ja toteuttaa puolijohdereleiden testilaitteisto LabVIEW-ohjelmointiympäristössä. Työ tehtiin Delcon Oy:lle vanhasta testilaitteistosta saatujen kokemuksien pohjalta.
Helppokäyttöisyys ja luotettavuus olivat sovelluksen tärkeimmät vaatimukset.

Uuden laitteiston oli määrä poistaa vanhaa kokoonpanoa häirinneet mittausvirheet sekä nopeuttaa testausprosessia. Mittaustapahtuman raja-arvot tuli voida lukea taulukosta ja mitatut arvot tallentaa vastaavasti taulukkomuotoon. Raja-arvotaulukoiden lisääminen testilaitteistoon oli määrä tehdä helpoksi, jotta uusien tuotteiden testaaminen onnistuisi vaivattomasti. Testilaitteiston tuli olla tietotekniikkaa osaamattomalle peruskäyttäjälle
mahdollisimman helppokäyttöinen sekä toimintavarma.

Testilaitteistoon valittiin USB-liitäntäiset mittauskortit, jotta laitteiston siirrettävyys olisi mahdollisimman hyvä tietokoneesta toiseen. Sovelluksessa käytettiin Master & Slave -rakennetta, jolla saatiin erotettua käyttöliittymä- ja testausosiot luontevasti toisistaan.
Edellisestä testilaitteistosta poiketen jännitelähteet mitoitettiin siten, että laitteistolla
saatiin testattua kaikki Delcon Oy:n valmistamat puolijohdereleet.

Lopullinen testilaitteiston versio jäi raja-arvojen hienosäätöä vaille valmiiksi. Ylikuulumisesta ja mittauskytkennästä johtuvien rajoitteiden vuoksi testilaitteistosta ei saatu viritettyä tarkkuusmittalaitetta. Toiminnallisuus rajoittui viallisten tuotteiden havaitsemiseen, sillä yksilökohtaisia eroja ei saatu luotettavasti mitattua.
Peruskäyttäjälle oleellisen virheellisten tuotteiden havaitsemisen laitteisto hoitaa kuitenkin sekä nopeasti että luotettavasti. Testattava tuote sekä erätunnus olisi tulevaisuudessa mahdollista lukea järjestelmään työmääräimen viivakoodista erillisen viivakoodinlukijan avulla. Näin päästäisiin eroon inhimillisestä virheestä, joka aiheutuu käyttäjän virhelyönneistä näppäimistöllä.
 
Kokoelmat
  • Opinnäytetyöt
Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatKoulutusalatAsiasanatUusimmatKokoelmat

Henkilökunnalle

Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste