Luotettavuustestauksia induktiosilmukkavahvistimelle

Abstract

Tämän opinnäytetyön toimeksiantaja oli Telesilmukka Oy. Työn tavoitteena oli kartoittaa induktiosilmukkavahvistimelle tarvittavia ja soveltuvia luotettavuustestejä sekä suorittaa jokin näistä testeistä.

Opinnäytetyö kuvailee induktiosilmukkavahvistimen rakennetta ja toimintaa sekä teoreettisella tasolla lämpötila-, tärinä ja EMC-testauksia. Lämpövanhenemistestaus suoritetaan induktiosilmukkavahvistimen prototyypille Arrheniuksen mallin mukaan.Testitulokset analysoidaan tuotteen odotettavan eliniän määrittämiseksi.

Opinnäytetyön teoriaosuuden aineistona on käytetty JEDEC:in standardeja ja pääasiassa aiheesta tehtyjä diplomitöitä. Induktiosilmukkavahvistimen prototyypin lämmönsietokyvyn arvioimisessa käytettiin komponenttien datalehtiä. Lämpövanhenemistestaus ja lämpökamerakuvaukset suoritettiin Lapin AMK:n TKIyksikössä. Ohjelmoinnit ja prototyypin lopputestaus suoritettiin Telesilmukka Oy:ssa.

Induktiosilmukkavahvistimelle löytyi useita luotettavuustestejä. Niistä rajattiin pois kannettaville laitteille tarkoitetut testaukset. Suoritetulla lämpövanhenemistestauksella osoitettiin, että testattu prototyyppi kestää vähintään viiden vuoden normaalikäytön.

This Bachelor thesis was done for Telesilmukka Oy. The objectives of the thesis were to research suitable and necessary reliability tests for induction loop amplifier and perform one of the tests.

The thesis describes the structure and functionality of the induction loop amplifier. Temperature-, vibration- and EMC-tests are described on theoretical level. The highly accelerated temperature test based on Arrhenius model was performed on the prototypes of induction loop amplifier. After analyzing the test results the predicted lifetime of the prototype was specified.

The study was done mainly on JEDEC standards and several Master’s theses. Component datasheets were used to predict the temperature endurance of the components on the induction loop amplifier prototype PCB. The highly accelerated temperature tests and thermal imaging were performed at the research laboratory of Lapland University of Applied Sciences. The Programming and final tests of the prototypes were conducted in Telesilmukka Oy.

There were several reliability tests suitable for induction loop amplifiers, but the tests for portable devices were excluded. Based on the results of the highly accelerated temperature testing the conclusion was drawn that the predicted lifetime of the prototype is over 5 years.