Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomi
  • Svenska
  • English
  • Kirjaudu
Hakuohjeet
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Näytä viite 
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Metropolia Ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt
  • Näytä viite
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Metropolia Ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt
  • Näytä viite

Simulating a Positioning System : RFID and Hall Effect Simulation

Leino, Matti (2014)

 
Avaa tiedosto
Final_Thesis_Leino_Matti-06-05-2014.pdf (305.8Kt)
Lataukset: 


Leino, Matti
Metropolia Ammattikorkeakoulu
2014
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201405076319
Tiivistelmä
KONE Oyj halusi kehittää erään tuotteensa testausjärjestelmää vastaamaan enemmän oikean hissin tilannetta. Yrityksellä on tällä hetkellä käytössä kaksi eri testausjärjestelmää kyseistä tuotetta varten, joista toisessa on simuloitu testausjärjestelmän osaa täysin ja toisessa testausjärjestelmän fyysinen toteutus aiheuttaa ongelmia tulevaisuudessa. Insinöörityön tavoitteena oli tutkia uusia mahdollisuuksia toteuttaa nämä testausjärjestelmät.

Tutkimusprojekti koostui erään tuotteen paikannusjärjestelmän Hall-ilmiön sekä radiotaajuustunnistautumisen simuloimisesta testausjärjestelmälle.

Hall-ilmiön perusteita ja simulointimahdollisuuksia tutkittiin teoriatasolla. Teorian perusteella parhaimmaksi ja kustannustehokkaimmaksi simulointitavaksi osottautui DAmuuntimien käyttäminen Hall-jännitteen simulointiin.

Radiotaajuustunnistautumista yritettiin projektissa simuloida muutamalla eri tavalla sekä teorian tasolla tutkittiin myös muita mahdollisuuksia. Projektissa keskityttiin erityisesti simuloimaan RFID-lähetin-vastaanotinpiiriä mikrokontrollerilla.

Tutkimusprojektin avulla pystyttiin löytämään kohdekortin molemmille rajapinnoille toimivia simulointimahdollisuuksia.

Opinnäytetyö osoittaa, että KONE Oyj voi kehittää erään tuotteensa testausjärjestelmää niin että siinä voidaan käyttää hissijärjestelmän kaikkia osia ilman että testausjärjestelmän fyysinen koko tulisi esteeksi tulevaisuudessa.
 
Kokoelmat
  • Opinnäytetyöt
Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatKoulutusalatAsiasanatUusimmatKokoelmat

Henkilökunnalle

Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste