Modernisering av en droptester
Lönnfors, Johan (2016)
Lönnfors, Johan
Yrkeshögskolan Novia
2016
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2016052610203
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2016052610203
Tiivistelmä
Opinnäytetyössä perehdytään ohjelmoitavan logiikan sekä kosketusnäytön ohjelmointiin drop testerille, jota käytetään piirilevylle asennettujen pintaliitoskomponenttien kestävyystesteihin.
Lisäksi opinnäytetyössä käsitellään ohjelmoitavien logiikkojen historiaa, rakennetta sekä niiden tavallisimpia ohjelmointikieliä. Sen ohella käsitellään teollisuus Ethernetin historiaa, varustusta, hyötyjä ja haittoja sekä niiden yleistä käyttöä teollisuudessa. Ethernet pohjaista EtherCAT kenttäväylän toimintaperiaatetta ja hyötyjä käsitellään myös.
Jedec standardi JESD22 B111 määrittelee ja kertoo, kuinka piirilevyille asennettujen pintaliitoskomponenttien kestävyyttä testataan. Tätä standardia käytetään kun kannettavien kuluttajalaitteiden piirilevyjen komponenttien kestävyyttä halutaan testata. Opinnäytetyö käsittelee, kuinka testi tehdään standardin mukaisesti ja mitä testiraportin pitäisi sisältää.
Lisäksi opinnäytetyössä käsitellään ohjelmoitavien logiikkojen historiaa, rakennetta sekä niiden tavallisimpia ohjelmointikieliä. Sen ohella käsitellään teollisuus Ethernetin historiaa, varustusta, hyötyjä ja haittoja sekä niiden yleistä käyttöä teollisuudessa. Ethernet pohjaista EtherCAT kenttäväylän toimintaperiaatetta ja hyötyjä käsitellään myös.
Jedec standardi JESD22 B111 määrittelee ja kertoo, kuinka piirilevyille asennettujen pintaliitoskomponenttien kestävyyttä testataan. Tätä standardia käytetään kun kannettavien kuluttajalaitteiden piirilevyjen komponenttien kestävyyttä halutaan testata. Opinnäytetyö käsittelee, kuinka testi tehdään standardin mukaisesti ja mitä testiraportin pitäisi sisältää.