Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomi
  • Svenska
  • English
  • Kirjaudu
Hakuohjeet
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Näytä viite 
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Satakunnan ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Satakunnan ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite

Muuntopiirikohtaisen vertailumittauksen hyödyntäminen mittauksen laadunvarmistuksessa

Heinonen, Juuso (2018)

 
Avaa tiedosto
Heinonen_Juuso.pdf (469.4Kt)
Lataukset: 


Heinonen, Juuso
Satakunnan ammattikorkeakoulu
2018
All rights reserved
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2018052510242
Tiivistelmä
Työssä tutkitaan muuntopiirikohtaisen vertailumittauksen eri mahdollisuuksia sekä selvitetään kustannushyötylaskelmaa eli miten tekninen toteutus olisi järkevä tehdä ja mitkä hyödyt ovat saavutettavissa.

Kuinka tuloksia tulisi analysoida jotta poikkeama/virhekohde löydetään. Onko priorisoinnin kautta jollakin kriteereillä löydettävissä potentiaaliset muuntopiirit, jotka olisi hyvä varustaa vertailumittauksella.

Lähtökohtana käytettävissä oli kaksi eri mittalaitetta ja luennankeruu järjestelmää.
Ensimmäisenä oli Echelon CT mittari, jonka luenta toimii Carunan alihankkijan Scheiderin kautta. Toinen käytössä oleva vaihtoehto oli Landis+Gyr:n E650 mittari, jonka luennan keruu tapahtuu Carunan itse hallinnoiman keruujärjestelmän kautta.
 
Kokoelmat
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatKoulutusalatAsiasanatUusimmatKokoelmat

Henkilökunnalle

Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste