Lisätty todellisuus pinnoitemittauksen näytekappaleen asemoinnissa
Laakso, Petri (2023)
2023
All rights reserved. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202305057958
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202305057958
Tiivistelmä
Tässä opinnäytetyössä tutkittiin ideaa käyttää lisättyä todellisuutta pinnoitemittauksen näytekappaleen asemoinnissa. Tavallisesti mitattavan kappaleen asento mittauslaitteessa etsitään näkemättä mittauksessa käytettävää röntgensädettä ja röntgenilmaisimen näkökenttää mittauspisteeseen. Työssä luotiin virtuaalimalli SolidWorks-ohjelmistolla. Luotu malli vietiin älypuhelimeen asennettuun eDrawings Pro ohjelmistoon, jossa mallia tarkasteltiin Hitachi FT230 pinnoitemittauslaitteisten yhteydessä. AR mallia testattiin käytännön mittauksessa. Työssä selviteltiin alustavasti tapoja virtuaalimallien tuottamiseen ja niiden tarkasteluun käytettäviä sovelluksia sekä sovelluskehitykseen soveltuvia työkaluja. Työssä selviteltiin ja vertailtiin alustavasti erilaisia käyttökonsepteja sekä virtuaalimallin tarkasteluun soveltuvia laitteita.
Testauksessa mallia käyttivät mittauskokemusta omaavat henkilöt. Testauksesta tehtiin kyselytutkimus. Virtuaalimallin tuottamiseen ja tarkasteluun käytettävien sovellusten kehittämiseen käytettäviä työkaluja arvioitiin lähteiden perusteella ja käytännön testaus suoritettiin valitussa ympäristössä.
Tuloksena todettiin virtuaalimallin helpottavan erityisesti monimutkaisten kappaleiden asemointia mittauksessa ja hyödyllisyys laitteiston käyttökoulutuksen yhteydessä.
Testauksessa mallia käyttivät mittauskokemusta omaavat henkilöt. Testauksesta tehtiin kyselytutkimus. Virtuaalimallin tuottamiseen ja tarkasteluun käytettävien sovellusten kehittämiseen käytettäviä työkaluja arvioitiin lähteiden perusteella ja käytännön testaus suoritettiin valitussa ympäristössä.
Tuloksena todettiin virtuaalimallin helpottavan erityisesti monimutkaisten kappaleiden asemointia mittauksessa ja hyödyllisyys laitteiston käyttökoulutuksen yhteydessä.