Poikkileikkeen valmistaminen paperista SEM-tutkimusta varten

Abstract

Yritys valmistaa erikoispapereita, joissa voi olla useita eri päällystekerroksia. Nämä päällystekerrokset voivat olla hyvinkin ohuita, paksuus vaihtelee välillä 1–20 µm. Tutkimustyössä on toisinaan tarpeellista tietää, miten päällystekerrokset asettuvat toistensa ja paperin kuitupohjan suhteen.

Yrityksen tutkimus- ja tuotekehityslaboratorioon on hankittu SEM/EDS-laitteisto tukemaan tutkimustyötä. SEM eli pyyhkäisyelektronimikroskooppi on erinomainen laite paperin poikkileikkeen tutkimiseen, koska sillä näytettä voidaan tutkia tavanomaista optista valomikroskooppia isommilla suurennoksilla. Yrityksen käytössä on Hitachi TM4200 SEM, jolla saadaan näytteestä 10–100 000 kertainen suurennos. Mikroskoopissa olevalla EDS laitteella saadaan tietoa näytteen alkuainekoostumuksesta.

Poikkileikkeen valmistamista varten tutkittiin erilaisia valumateriaaleja ja niiden käsiteltävyyttä. Tämän toiminnallisen opinnäytetyön tavoitteena oli kehitellä helppo ja yksinkertainen menetelmä paperin poikkileikkeen valmistamiseen. Opinnäytetyön tuotoksena kirjoitetiin työohje poikkileikkeen valmistamisesta.