Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomi
  • Svenska
  • English
  • Kirjaudu
Hakuohjeet
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Näytä viite 
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Vaasan ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Vaasan ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite

Mittaustekniikan kehittäminen ohutlevytuotannossa

Heikkilä, Jarkko (2017)

 
Avaa tiedosto
Heikkila_Jarkko.pdf (1.334Mt)
Lataukset: 


Heikkilä, Jarkko
Vaasan ammattikorkeakoulu
2017
All rights reserved
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-201705107363
Tiivistelmä
Opinnäytetyö tehtiin paikalliselle konepajayritykselle. Työn tarkoituksena oli tutkia omavalmisteisten ohutlevytuotteiden mittaamista ja sen pohjalta kartoittaa erilaisia vaihtoehtoja mittaustekniikan kehittämiselle. Työn tavoitteisiin kuului selvittää mittaamisen nykytila sekä erilaisten kehitysehdotuksien kartoittaminen.
Työn tekeminen perustui empiiriseen tutkimukseen ja havainnointiin paikanpäällä sekä työntekijöiden haastatteluihin. Työ aloitettiin selvittämällä mittaamisen nykytila. Tämän jälkeen tutkittiin tarkastusvaiheen toimintaa ja lopuksi tehtiin mittaussysteeminanalyysi, joka pohjautui mittaustestiin Gage R&R:ään.
Lopputuloksena saatiin selvitys mittaamisen nykytilasta, lyhyt analyysi mittaamisesta sekä muutamia kehitysehdotuksia.
 
Kokoelmat
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatKoulutusalatAsiasanatUusimmatKokoelmat

Henkilökunnalle

Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste