IC Stripline -testimetodin käyttöönotto: Stripline-kammion vertailevat testit

Abstract

Insinöörityö tehtiin Murata Electronics Oy:n EMC laboratorion toimeksiantona. Työn tarkoitus oli selvittää, soveltuuko uusi IC Stripline -kammio testimetodina komponenttien validointiin kuten nykyisin käytössä oleva TEM-kammio.

Työssä perehdyttiin tarvittaviin standardeihin ja sähkömagneettisen yhteensopivuuden teorian kirjallisuuteen. Lisäksi tietoa ja apua mittauksiin saatiin EMC-laboratorion insinööreiltä.

Työssä mitattiin kolmea eri anturia kummallakin kammiolla. Anturit mitattiin monella eri asetuksella ja orientaatiolla. Kammioita analysoitiin myös mittaamalla niiden VSWR-arvot, joka kertoo niiden impedanssisovituksen ominaisuudet.

Työn tuloksena mittauksissa ei havaittu merkittäviä eroja antureiden ulostulossa kammioiden välillä. Testattavissa piirilevyissä todettiin eroavaisuuksia standardin suosituksiin verrattuna. Tuotteiden emissioiden mittauksessa löydettiin ohjelmistossa virhe. Tämä korjattiin ja nyt ohjelmisto mittaa oikein korkeammillakin taajuuksilla.

The thesis work was commissioned by Murata Electronics Oy’s EMC laboratory. The purpose of this work was to find out if new IC Stripline cell test method is fitted for component validation in the same way as currently used TEM cell.

Required standards and electromagnetic compatibility theory were used as source material. In addition, information and assistance for the measurements were obtained from EMC laboratory’s engineers.

Three different sensors were measured in both cells. The sensors were measured by a variety of settings and orientation. The cells were also analyzed by performing VSWR characteristic measurements which present how accurate impedance level is in each test cell.

There were no significant differences measured in the sensors output between the cells. The test PCBs had some differences compared to the standards recommendations. During the work there was an error discovered in the emission measurement software. Error was corrected and now the software measures correctly also at the higher frequencies.