Kirjaston luominen kannettavalle Rigagu Progeny ResQ 1064 nm Raman -spektrometrille
Pulkkinen, Minna (2018)
Avaa tiedosto
Lataukset:
Pulkkinen, Minna
Metropolia Ammattikorkeakoulu
2018
All rights reserved
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2018120620379
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2018120620379
Tiivistelmä
Opinnäytetyö toteutettiin yhteistyössä Keskusrikospoliisin kanssa vastaamaan viranomaisten kentällä kohtaamiin haasteisiin erilaisten kemikaalien turvallisessa tunnistamisessa. Työn tavoitteena oli luoda viranomaisille selkeä ja yksiselitteinen kenttäkäyttöön soveltuva kemikaalikirjasto, jonka avulla voidaan tunnistaa etsinnöillä tai kohteessa olevat tuntemattomat kemikaalit. Lisäksi tavoitteena oli määrittää mittausparametrit, jotka soveltuvat sellaisenaan valtaosalle näytematriiseista.
Kirjastoa varten mitattiin erilaisia huumausaineita, jatkeaineita, kotitalouskemikaaleja ja aineiden seoksia. Kirjastoon lisättäville aineiden spektreille asetettiin laatuvaatimukset. Laatuvaatimukset täyttävän spektrin luomiseksi laitteen mittausparametrejä oli muunneltava näytekohtaisesti. Osa mitattavista näytteistä ei parametrien säädöistä huolimatta täyttänyt spektrille annettuja laatuvaatimuksia. Laitteen toimivuutta ja tunnistuskykyä testattiin mittaamalla erilaisia seoksia.
Kirjaston luominen onnistui odotetusti. Mittausten yhteydessä huomattiin tarve useammalle eri tyyppiselle mittausparametrille riippuen näytematriisin ominaisuuksista.
Kirjastoa varten mitattiin erilaisia huumausaineita, jatkeaineita, kotitalouskemikaaleja ja aineiden seoksia. Kirjastoon lisättäville aineiden spektreille asetettiin laatuvaatimukset. Laatuvaatimukset täyttävän spektrin luomiseksi laitteen mittausparametrejä oli muunneltava näytekohtaisesti. Osa mitattavista näytteistä ei parametrien säädöistä huolimatta täyttänyt spektrille annettuja laatuvaatimuksia. Laitteen toimivuutta ja tunnistuskykyä testattiin mittaamalla erilaisia seoksia.
Kirjaston luominen onnistui odotetusti. Mittausten yhteydessä huomattiin tarve useammalle eri tyyppiselle mittausparametrille riippuen näytematriisin ominaisuuksista.