Improving Yield on Testing Stations

Abstract

Tämän työn tarkoitus oli löytää juurisyitä kahden identtisen testiaseman saantoon. Työssä käy ilmi eri prosessit ja työ vaiheet, joiden avulla tavoite saavutettiin.

Kaikki datan keräyksessä käytetyt laitteet ovat Vaisalan laitteita. Laitteiden avulla monitoroitiin dataa, jonka perusteella tehtiin parannuksia prosesseihin. Näihin parannuksiin kuului testaus prosessin parantaminen, ohjeistuksen parantaminen sekä parannuksia työvälineisiin, joiden avulla käyttäjä pystyy havaitsemaan ongelmia testiasemissa.

Näiden vaiheiden avulla aseman saantoa saatiin parannettua pienentämällä hukka-ajojen aikaa yli annetun tavoitteen.

The purpose of this study was to find root causes for a bad yield on two identical testing stations that are used for dew point calibration. This study shows the process and the steps to achieve this goal.

Vaisala’s devices were used for gathering data of the testing stations. The data was monitored, and actions were taken according to the data. These actions included making changes to the testing process, improving instructions, and improving tools for the users to detect fault in the tests.

These actions resulted in reduction of lost run time, exceeding the wanted result, thus improving the yield on the stations.