Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • På svenska
    • In English
  • Suomi
  • Svenska
  • English
  • Kirjaudu
Hakuohjeet
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Näytä viite 
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Oulun ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite
  •   Ammattikorkeakoulut
  • Oulun ammattikorkeakoulu
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
  • Näytä viite

EMC Measurement Feasibility Study for Automated Test System

Moilanen, Joona (2022)

 
Avaa tiedosto
Moilanen_Joona.pdf (2.023Mt)
Lataukset: 


Moilanen, Joona
2022
All rights reserved. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2022053113740
Tiivistelmä
The objective of this thesis was to study and test the possibility of performing electromagnetic compatibility measurements with an automated test system. This thesis starts with theory part of the electromagnetic compatibility and presenting the spectrum analyzer and accessories needed for the measurements. The measurements were performed at the automated test systems location, to get the interferences from the devices in the same environment.

H-field probes were used for the measurements in this thesis. Larger diameter of the probe has big impact on the measurement results due to its higher sensitivity, which causes ambient interferences to appear much higher compared to a probe with smaller diameter.

Based on the measurements in this thesis, electromagnetic compatibility measurements can be performed with the automated test system. The results concluded that the ambient interferences appear on certain frequency ranges, which can cause the measurement results to disappear under the interferences on specific measurements if the desired measurement frequency range overlaps the ambient interferences.

The automated test systems changing surroundings need to be acknowledged, because some devices around the automated test system might cause interferences on frequency ranges which were not visible in the measurements performed during this thesis.
Kokoelmat
  • Opinnäytetyöt (Avoin kokoelma)
Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste
 

Selaa kokoelmaa

NimekkeetTekijätJulkaisuajatKoulutusalatAsiasanatUusimmatKokoelmat

Henkilökunnalle

Ammattikorkeakoulujen opinnäytetyöt ja julkaisut
Yhteydenotto | Tietoa käyttöoikeuksista | Tietosuojailmoitus | Saavutettavuusseloste