Peltier-näytelavan käyttö pyyhkäisyelektronimikroskoopissa
Laitila, Jaana (2025)
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202501221806
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-202501221806
Tiivistelmä
Opinnäytetyö tehtiin Metropolia Ammattikorkeakoululle. Tarkoitus oli selvittää pyyhkäisyelektronimikroskooppiin (SEM) lisäosana hankitun Peltier-elementin tuomat mahdollisuudet näytteiden tutkimiseen. Tavoitteena oli myös suorittaa laitteen käyttöönotto koululla olevaan SEM-laitteeseen ja laatia yksinkertainen käyttöohje.
Tavallisesti näytteen on oltava kuiva ja sähköä johtava, jotta sitä voidaan tarkastella SEM-laitteella. Biologisten näytteiden kohdalla näin ei kuitenkaan ole, jos niitä halutaan tutkia mahdollisimman alkuperäisessä tilassa. Peltier-elementti ja vesihöyryn käyttö kuvantamiskaasuna mahdollistaa pinnoittamattomien näytteiden tutkimisen ilman näytteen kuivumista tai rakenteen romahtamista. Kuvantaminen perustuu prosessissa muodostuviin positiivisiin ioneihin. Tämän avulla voidaan myös tutkia erilaisia kemiallisia reaktioita ja muutoksia näytteessä muuttamalla kammion olosuhteita lämpötilan ja vesihöyrynpaineen avulla. Peltier-elementti toimii järjestelmässä näytteen lämpötilan säätämiseen.
Työhön on koottu SEM-laitteen toimintaperiaatteet siltä osin, että ne auttavat ymmärtämään tavallisimpia haasteita johtamattomien näytteiden kuvantamisessa. Tämä työ toimii perehdytysmateriaalina uusille käyttäjille, mutta sen lisäksi on suositeltavaa tutustua SEM-laitteen rakenteeseen ja perustoimintaan ennen käyttöä. Lopputuloksena koulun SEM-laitteeseen saatiin asennettua Peltier-elementti ja sen käyttöönottoon tarvittavat dokumentit.
Tavallisesti näytteen on oltava kuiva ja sähköä johtava, jotta sitä voidaan tarkastella SEM-laitteella. Biologisten näytteiden kohdalla näin ei kuitenkaan ole, jos niitä halutaan tutkia mahdollisimman alkuperäisessä tilassa. Peltier-elementti ja vesihöyryn käyttö kuvantamiskaasuna mahdollistaa pinnoittamattomien näytteiden tutkimisen ilman näytteen kuivumista tai rakenteen romahtamista. Kuvantaminen perustuu prosessissa muodostuviin positiivisiin ioneihin. Tämän avulla voidaan myös tutkia erilaisia kemiallisia reaktioita ja muutoksia näytteessä muuttamalla kammion olosuhteita lämpötilan ja vesihöyrynpaineen avulla. Peltier-elementti toimii järjestelmässä näytteen lämpötilan säätämiseen.
Työhön on koottu SEM-laitteen toimintaperiaatteet siltä osin, että ne auttavat ymmärtämään tavallisimpia haasteita johtamattomien näytteiden kuvantamisessa. Tämä työ toimii perehdytysmateriaalina uusille käyttäjille, mutta sen lisäksi on suositeltavaa tutustua SEM-laitteen rakenteeseen ja perustoimintaan ennen käyttöä. Lopputuloksena koulun SEM-laitteeseen saatiin asennettua Peltier-elementti ja sen käyttöönottoon tarvittavat dokumentit.
