MEMS-testauslaitteiston osumatarkkuuden laadunvarmistusprosessin kehittäminen
Mäkilä, Toni (2022)
2022
All rights reserved. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2022112624272
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2022112624272
Tiivistelmä
Tutkimus toteutettiin Suomalaiselle MEMS-testauslaitteistoja suunnittelevalle ja valmistavalle yritykselle. Tutkimuksen tarkoituksena oli parantaa yrityksen erityistä paikoitustarkkuutta vaativien laitteistojen laadullista testaamista. Yrityksen laadunvarmistus paikoitustarkkuuden osalta oli lähtötasoltaan pääosin tuntematon ja yleisiin normeihin sitomaton.
Tutkimuksen teoriaosuudessa perehdyttiin laadun määritelmään, laitteistotestauksen aiempiin tutkimuksiin, sekä standardeihin ISO 9001:2015, ISO 230:1 ja ISO 230:2. Nykytilan osalta kuvattiin yrityksen lähtötaso viimeisimpien laitetoimitusprojektien osalta paikoitustarkkuuden osalta. Näistä jalostettiin gap-analyysi tasojen erojen havainnoimiseksi. Gap-analysointiin käytettiin tietoja yrityksen viimeisimmistä kiekkotason MEMS-testauslaitteistoprojekteista.
Gap-analyysissä havaittiin yhteneväisyyksiä tavoitetilaan nähden, varsinkin ISO 9001:2015-standardin osalta. Eroja löytyi tarkkuutta vaativien testiosioiden projektinaikaisesta dokumentaatiosta, sekä lopullisen laitteistotestausdokumentin testiosioiden puutteellisuudesta.
Tutkimuksen tuloksena syntyi laatuun keskittyviä kehityskohteita ja toimenpiteitä. Näitä parantamalla yrityksen on mahdollista kehittää tuotteidensa laadun osoittamista ja kehittämistä.
Tutkimuksen teoriaosuudessa perehdyttiin laadun määritelmään, laitteistotestauksen aiempiin tutkimuksiin, sekä standardeihin ISO 9001:2015, ISO 230:1 ja ISO 230:2. Nykytilan osalta kuvattiin yrityksen lähtötaso viimeisimpien laitetoimitusprojektien osalta paikoitustarkkuuden osalta. Näistä jalostettiin gap-analyysi tasojen erojen havainnoimiseksi. Gap-analysointiin käytettiin tietoja yrityksen viimeisimmistä kiekkotason MEMS-testauslaitteistoprojekteista.
Gap-analyysissä havaittiin yhteneväisyyksiä tavoitetilaan nähden, varsinkin ISO 9001:2015-standardin osalta. Eroja löytyi tarkkuutta vaativien testiosioiden projektinaikaisesta dokumentaatiosta, sekä lopullisen laitteistotestausdokumentin testiosioiden puutteellisuudesta.
Tutkimuksen tuloksena syntyi laatuun keskittyviä kehityskohteita ja toimenpiteitä. Näitä parantamalla yrityksen on mahdollista kehittää tuotteidensa laadun osoittamista ja kehittämistä.