XJTAG-testiympäristön ominaisuudet

Hellgren, Olli (2015)
 
Avaa tiedosto
Lataukset: 

Rajattu käyttöoikeus / Restricted access / Tillgången är begränsad
Hellgren, Olli
2015
All rights reserved. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2023122138880
Tiivistelmä
Työ käsittelee elektronisten piirilevyjen testausta. XJTAG on testausjärjestelmä, joilla voidaan testata JTAG -väylää käyttäviä piirilevyjä. Tavoitteena oli selvittää XJTAG -
ohjelmiston ja – laitteiston ominaisuuksia, sekä niiden käyttömahdollisuuksia.
Kokoelmat