Testauskokoonpanon laadun mittaristo ja kehittäminen
Blomqvist, Henrik (2024)
2024
All rights reserved. This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.
Julkaisun pysyvä osoite on
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2024061022559
https://urn.fi/URN:NBN:fi:amk-2024061022559
Tiivistelmä
Elektroniikkateollisuudessa tuotantovirheet voivat aiheuttaa merkittäviä kustannuksia ja laadun heikkenemistä, joten tehokkaat laadunvalvontamenetelmät ovat välttämättömiä.
Työn tavoitteena oli analysoida testauskokoonpanon prosessia ja kehittää mittaristo, joka auttaisi tunnistamaan ja ehkäisemään virheitä sekä parantamaan kokoonpanon laatua ja vähentämään laatukustannuksia.
Työssä analysoitiin testauskokoonpanon nykyiset haasteet ja kartoitettiin virheiden syyt ja seuraukset. Näiden pohjalta kehitettiin mittaristo, joka auttaa seuraamaan ja parantamaan kokoonpanon laatua.
Tuloksena saatiin käytännönläheisiä suosituksia tuotantovirheiden minimointiin ja laadunvarmistuksen tehostamiseen. Mittariston kehittämisen yhteydessä havaittiin, että perinteisessä massatuotannossa käytettäviä mittareita on haastavaa soveltaa testereiden valmistukseen.
Työn tavoitteena oli analysoida testauskokoonpanon prosessia ja kehittää mittaristo, joka auttaisi tunnistamaan ja ehkäisemään virheitä sekä parantamaan kokoonpanon laatua ja vähentämään laatukustannuksia.
Työssä analysoitiin testauskokoonpanon nykyiset haasteet ja kartoitettiin virheiden syyt ja seuraukset. Näiden pohjalta kehitettiin mittaristo, joka auttaa seuraamaan ja parantamaan kokoonpanon laatua.
Tuloksena saatiin käytännönläheisiä suosituksia tuotantovirheiden minimointiin ja laadunvarmistuksen tehostamiseen. Mittariston kehittämisen yhteydessä havaittiin, että perinteisessä massatuotannossa käytettäviä mittareita on haastavaa soveltaa testereiden valmistukseen.